在IEDM 2025上,英特爾首次展示了一種基於300mm矽基氮化鎵工藝的氮化鎵Chiplet技術。該氮化鎵Chiplet技術具有以下特點:業界最薄的氮化鎵Chiplet,其底層矽襯底厚度僅為19µm,取自完全加工、減薄和單晶化的300mm矽基氮化鎵晶圓,並展現出卓越的電晶體性能和品質因數;業界首個採用單片整合氮化鎵N-MOSHEMT和矽PMOS工藝的全功能整合片上CMOS數位電路庫,涵蓋反相器、邏輯閘、多路復用器、觸發器和環形振盪器等;TDDB、pBTI、HTRB和HCI測試結果令人滿意,表明該300mm氮化鎵MOSHEMT技術能夠滿足所需的可靠性指標。英特爾認為,這項工作中展示的技術要素表明,300mm GaN-on-silicon 技術是一種有吸引力且功能強大的Chiplet技術,適用於高性能、高密度、高效功率和高速/射頻電子產品。引言隨著計算解決方案向更高功率擴展以應用於圖形和伺服器平台,以及新興的 5G/6G 通訊不斷提高資料速率,氮化鎵 (GaN) 和先進的 3D 封裝等半導體技術在提供超越當前矽和 III-V 族技術的更高性能、更高效率、更高整合度和更高密度方面,正發揮著越來越重要的作用。在此前,就有專家提出了 300mm GaN-on-silicon 技術,由於其卓越的性能指標 (FoM) 以及將低電壓至 48V GaN 與矽 CMOS 整合的能力,正成為高密度、高性能功率和高速/射頻電子器件領域極具吸引力的技術。圖 1 展示了 GaN 負載點電源解決方案的潛在發展方向:從分立式主機板電壓調節器 (MBVR) 到採用 GaN 功率晶片的Chiplet整合,以滿足對更高功率密度、更高效率(例如,降低 I²R 布線損耗)和更緊密整合度的需求。本文展示了實現基於 300mm 矽基 GaN 工藝的 GaN Chiplet技術所需的技術要素。圖 2 展示了 GaN Chiplet整合的示例。首先,值得注意的是,該複合體中用於容納Chiplet的空間非常有限(在所有 xyz 方向上)。因此,GaN 電晶體技術需要具備高密度和高性能,能夠提供接近或超過 10 A/mm² 的高電流密度。此前,我們證明了 300mm 的矽基 GaN MOSHEMT 技術可以實現電流密度接近 ~10 A/mm² 的功率晶片。此外,GaN Chiplet需要超薄(<<50 µm),以便實現短(低縱橫比)、低電阻的矽通孔 (TSV),從而降低電阻損耗並實現可接受的散熱。在這項工作中,我們展示了業界首個採用厚度僅為 19 µm 的矽襯底的 GaN Chiplet,該矽襯底取自經過全面加工、減薄和單晶化的 300 mm GaN on-silicon 晶圓。其次,GaN Chiplet必須儘可能完整,具備所需的各種功能,例如 CMOS 控製器 、低漏電 CMOS 驅動器、偏置電路(例如 PMOS 電流鏡)和遙測電路等。整合 CMOS 驅動器(例如 DrGaN)和死區時間控製器等功能對於實現最佳效率和快速開關以縮小無源器件尺寸至關重要。該複雜結構中沒有空間容納例如 CMOS 配套晶片。僅僅為了訪問少量 CMOS 元件而在晶片之間進行布線效率低下。因此,對於GaNChiplet技術而言,至關重要的是將關鍵的CMOS元件整合並實現在同一GaN晶片上。為此,我們首次展示了一個功能齊全、完全整合的片上CMOS數位電路庫,涵蓋反相器、邏輯閘、多路復用器、觸發器和環形振盪器等,所有電路均採用單片整合GaN N-MOSHEMT和Si PMOS工藝實現,該工藝通過層轉移技術實現,並使用統一工藝設計套件(PDK)進行設計。第三,GaN MOSHEMT電晶體技術必須滿足基本的可靠性要求。在這項工作中,我們展示了溫度相關介質擊穿(TDDB)、正偏壓溫度穩定性(pBTI)、高溫反向偏壓(HTRB)和熱載流子注入(HCI)方面的良好結果,這表明300mm GaN MOSHEMT技術能夠滿足這些可靠性指標。從高性能 300 毫米矽基氮化鎵晶圓中製備超薄 GaN Chiplet圖 3 展示了減薄並切割成單片的 300 mm GaN-on-silicon 晶圓的照片,包括 (b) 晶圓邊緣和 (c) 晶圓內成功取出一個Chiplet(晶粒)的區域。該晶圓採用 SDBG(研磨前隱蔽切割:stealth dicing before grinding)工藝進行減薄和切割。圖 4(a-c) 展示了從圖 3 所示的 300 mm GaN-on-silicon 晶圓中提取的 GaN Chiplet的 SEM 顯微照片,顯示了厚度僅為 19 µm 的底層矽襯底。橫截面 SEM 顯微照片顯示了完全加工的後端互連堆疊和前端 GaN 器件。需要強調的是,這是業界最薄的完全加工的 300 mm GaN 晶圓。圖 4(d) 展示了一個原型,其頂部 GaN Chiplet翻轉後連接到底部晶圓上。圖 5 展示了從圖 4 中的 GaN Chiplet測得的 GaN MOSHEMT(LG=30 nm,柵漏間距不同)電晶體的 ID-VG 特性。LG=30 nm 的 GaN 電晶體表現出優異的導通電阻 (RON),以及低於 3 pA/µm 的低漏極和柵極漏電流。圖 6 展示了從圖 4 中的 GaN Chiplet測得的 GaN MOSHEMT(LG=30 nm,LGD=1000 nm,LGFP=900 nm)的 ID-VD 特性。在圖 6(b) 的 BVDS 測量過程中,在維持 78 V (@ 1 µA/µm) 的 VDS 後,該電晶體表現出穩定的 ID-VD 特性(變化小於 2%)。圖 7 顯示了不同 LGD 和 LGFP 的 LG=30nm GaN MOSHEMT 的 Ron-BVDS 和 BVDS-LGD 特性,測量自圖 4 中的 GaN Chiplet。圖 8 顯示,最佳功率 FoM=Ron-QGG ~1 mΩ-nC 由 LG=30nm、LGD=200-250nm 的 GaN MOSHEMT 實現,測量自圖 4 中的 GaN Chiplet。此前,我們採用相對較長溝道長度(LG=250nm)的 GaN MOSHEMT 的 300mm 矽基 GaN MOSHEMT 技術實現了約 10 A/mm² 的電流密度。本文表明,通過縮小電晶體幾何尺寸和間距,可以實現低至 30nm 的短溝道長度(LG),因此有可能實現遠大於 10 A/mm² 的電流密度。圖 9 展示了 GaN MOSHEMT 電晶體的射頻性能。對於最短的 LG 為 30 nm,實現了 212/304 GHz 的高 fT/fMAX 值;在 LG 長達 130 nm 的範圍內,峰值 fMAX 均大於 200 GHz。此處測得的射頻資料(基於圖 4 中的 GaN Chiplet)表明,該器件在射頻和高速應用(例如光子學)方面具有良好的應用前景。這種 GaN Chiplet技術在這些應用中具有潛在的應用價值。CMOS數位電路與GaN MOSHEMT在300mm矽基GaN上的整合圖10為單片整合在300mm矽基GaN晶圓上的GaN N-MOSHEMT電晶體和Si PMOS的透射電鏡(TEM)圖像。圖11為單片整合Si PMOS電晶體(LG=180 nm,RON=2411 Ω-µm,ION=0.35 mA/µm)和GaN MOSHEMT電晶體(LG=180 nm,RON=413 Ω-µm,ION=1.03 mA/µm)的ID-VG特性曲線。圖12為採用單片整合GaN N-MOSHEMT和Si PMOS實現的反相器,展示了測得的反相器Vout-Vin響應以及輸入/輸出波形。圖 13 顯示了 NAND 門及其測量的輸出波形和 (p, q) 輸入波形。圖 14 顯示了多路復用器 (MUX),展示了 (p, q) 和 Select 輸入訊號的測量輸出波形。圖 15 顯示了採用相同單片工藝實現的環形振盪器佈局,該振盪器包含 7213 級反相器和一個 214 分頻器(由 D 觸發器鏈組成)。在 300 mm GaN-on-Si 晶圓上,每級反相器的測量延遲為 33 ps ± 2 ps (1σ)。這是首次採用 300 mm 單片整合 GaN N-MOSHEMT 和 Si PMOS 工藝,展示了一個功能齊全的片上整合數位電路庫。300mm GaN MOSHEMT 可靠性圖 16 顯示了 GaN MOSHEMT 柵極氧化層的時間相關介質擊穿 (TDDB) 研究結果。根據測得的參數 (β, ASF, VAF),計算得到的 Vmax 為 1.84 V,對應於 1000 mm (106 µm) 的電晶體寬度,在 90°C 下,10 年壽命,故障率為百萬分之一。該 Vmax 足以滿足此 GaN MOSHEMT 技術的需求,遠低於 p-GaN HEMT 中常見的高柵極電壓 (5-6 V),因此驅動功耗遠低於 p-GaN HEMT。圖 17 顯示了 GaN MOSHEMT 的正偏壓溫度不穩定性 (pBTI) 研究結果。其中,閾值電壓 (VT) 在飽和至約 +0.43 V 後穩定並停止增加,導通電阻 (Ron) 穩定在 503 Ω-µm(較初始值 416 Ω-µm 增加 21%)。這些結果表明需要進行“老化”過程,以使柵極感應陷阱達到飽和。在讀出 (RO) 間隔期間,移除柵極應力 (Vg,stress),並在應力移除後的 75 µs 短時間內測量電晶體參數。如此快速的讀出可確保閾值電壓 (VT) 在讀出間隔期間不會顯著恢復。圖 18 顯示,在高溫反向偏置 (HTRB) 研究中,對 GaN MOSHEMT 施加應力電壓 VD,stress=72 V 和 VG,stress=-1 V 後,電晶體導通電阻穩定在初始值的 +16% ΔRon,並且電晶體柵極和漏極的漏電流在整個應力作用下保持穩定。這些結果表明,該器件經歷了一個“老化”過程,其中漏極感應陷阱達到飽和。圖 19 顯示了 GaN MOSHEMT 在不同應力電壓 VD,stress 和不同漏極電流密度 ID,str 下的熱載流子注入 (HCI) 研究結果。對應於 ID,str=0.1 mA/µm 的點是從 ID,str 從 0.3 到 0.9 mA/µm 的測量資料中投影得到的。失效時間 (TTF) 的測量基於失效準則,該準則通過觀察漏極電流變化 ∆ID 達到 -20% 來定義。根據測得的 HCI 資料,預計該電晶體能夠承受 VD > ~15V 且 IDstr < 0.1 mA/µm 的 HCI 應力(1% 的時間),持續 10 年。TDDB、pBTI、HTRB 和 HCI 研究結果表明,該 300 mm GaN MOSHEMT 技術在滿足可靠性指標方面具有良好的應用前景。總結本研究首次展示了一種基於 300mm GaN-on-silicon 的 GaN Chiplet技術。我們展示了業界最薄的 GaN Chiplet,其底層矽襯底厚度僅為 19 µm,該晶片取自經過全面加工、減薄和單晶化的 300mm GaN-on-silicon 晶圓,展現出卓越的電晶體性能和品質因數。我們首次利用單片 GaN N-MOSHEMT 和 Si PMOS 工藝,展示了一個功能齊全、完全整合的片上 CMOS 數位電路庫,從而實現了關鍵片上 CMOS 功能的整合。TDDB、pBTI、HTRB 和 HCI 研究的良好結果表明,該 300mm GaN MOSHEMT 技術能夠滿足所需的可靠性指標。本文展示的Chiplet技術要素,推進了300mm矽基氮化鎵技術的發展,使其成為高密度、高性能、高效率電力電子器件和高速/射頻電子器件的理想選擇。 (半導體行業觀察)